QE-2000 荧光量子效率测试系统

 QE-2000荧光量子效率测试系统

• QE-2000瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散光。另采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系的同时，运用其再激发荧光補正的优点，可进行高精度的测量。
• 高精度测量（专.利：5150939号）：使用低杂散光光谱仪MCPD系列
• 多次激发补正（专.利：3287775号、4631080号）：最大.程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独.家）
• 使用积分半球（专.利：4216314号）：是普通积分球测试效率的2倍，更易于样品的装夹，更换简单（世界范围内独.家）
• 多种样品都能对应：粉体、溶液、薄膜、固体等等
• 可添加温控系统：-30~300℃

QE-2000荧光量子效率测试系统