微区X射线荧光分析仪Atlas

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2016年推出的微区X射线荧光分析仪Atlas，作为一款能量色散型X射线荧光分析仪（EDXRF），Atlas的空间分辨率、操作自动化，束斑尺寸等诸多性能指标表现优异，目前Atlas有两个型号M和X（尺寸更大）。

电路板的X射线面分布图，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）

微区X射线荧光分析仪Atlas介绍：
　　IXRF专注于*确地微区痕量元素分析产品，包括齐全的能谱仪（EDS）和X射线荧光（XRF）。
 
　　在硬件方面，作为一款台式XRF，Atlas-M型号的体积为890×560×560mm，具有较大的样品仓体积，相对应的是较大的样品台行程以及最重的载重量，而与此同时，却可以将样品台的移动速度提升到300mm/s，移动精度≤1μm。
      其采用的毛细管聚焦技术，可将束斑缩至5μm，另外也可通过选用准直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之间的范围内可调；其多大8片的滤波片选择，可满足更多的分析需求。
　　在软件方面，作为曾因其软件研发能力而获得英国政府颁发的千禧年大奖的公司，IXRF在Atlas操作软件的开发上沿袭了其一贯的专业性及开放性。
在数据的获取及处理上，可实现数据的一键采集，或自动或手动的鉴别样品成分，并利用FP建模或quantitative  match等功能实现样品成分的定量分析；在图像处理方面，不仅可对获取的图像进行拼接，还可实现相分析、特征颗粒筛选、特征颗粒形态学上的测量及成分分析等功能；在面分布及线扫描方面，可同时获得多达35种元素的信息，并且实现单像素的谱图数据采集，并可完全保存下来，后续仍可继续对此数据进行点线面等处理。
　　在应用方面，可在各种环境，如大气、真空以及氦气等气氛下分析多种类的样品，无论是固体、液体、颗粒、粉末，样品大小，抛光与否，表面粗糙与否皆可轻松胜任，且实现无损分析。
      鉴于Atlas的突出的性能特点，其被广泛的应用到地矿文博、电子器件、环境监测、刑侦医学、医药检测等方面。

Atlas-M型号技术参数

样品类型

固、液、颗粒、粉末

测试介质

空气、真空、氦气

激发源

12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA

激发源参数：

靶材

束班尺寸

滤片

多毛细管或准直器

铑（其他可选）

5μm-1000μm连续可调

最大8片

探测器

分辨率

活区面积

SDD

135-145ev

50-150mm2

样品台

X、Y、Z三轴可动

最大320X320mm可移动范围

最大载重10Kg

 

Mapping最大尺寸

样品移动速度

 

220X200mm

300mm/s

元素分析范围

Na-U

特点：

1、 束斑尺寸最小可达5μm；

2、 大样品台行程（320×320×120mm），移动速度可达300mm/s；

3、 多达8片的滤波片选择；

应用领域：

1、 地矿文博；

2、 电子器件；

3、 刑侦医学；

4、 医药检测；

5、 环境监测。

 

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