Description
电离层测高仪
电离层测高仪用于测试电离层特性参量及其变化，从而判断空间电场、电子密度等信息。主要特性参量包括组成成分、总电子含量、电子密度、电子温度、离子密度、离子温度、电场强度、磁场强度、不均匀结构的尺度、高度分布和漂移运动等。
这种探测方法是美国G.布赖特和 M.A.图夫二人于1925年发明的，至今仍是的最基本的手段。以前，世界只有少量电离层垂测站。大战期间,为了改善短波通信,在全世界建立了大量的垂测站。在期间,这种观测站已有150处以上。中国在1949年前有重庆、武汉、兰州三个站，1949年以后，先后增设了满洲里、乌鲁木齐、长春、北京、广州、海口等站，形成了一个较完整的协同观测的垂测网，积累了两个太阳黑子周期以上的资料。
此设备实质上是一台短波脉冲雷达，通常由发射机、接收机、天线、、显示记录器、程序控制器等组成。其工作频率可在整个短波波段的频率范围 （0.5～30兆赫）内连续改变。此设备进行探测时，发射机的高频脉冲振荡通过天线垂直向上辐射，不计碰撞和地磁场的影响,根据阿普顿-哈特里公式（见磁离子理论），电离层介质的折射指数为
式中称为;f为发射频率（兆赫）。对应于电离层中某一高度的电子密度值N(单位为米-3)各有一个fN值。利用测高仪对电离层某层进行探测时，将发射机频率f由低值逐渐增高,当f=fN时，n=0，电波就从与N 相对应的高度反射回来。如果该层最大电子密度值为Nm，则从该层反射的电波频率为
式中fC为该层的临界频率。如果f>fC,电波将穿过该层入射到更高的电离层次。当 f的值足够高而使电波能穿过的层次时，这个频率即为整个电离层的穿透频率。
假设脉冲波群在电离层介质中的传播速度同在自由空间中一样，那么，根据反射下来的回波脉冲与发射脉冲之间的时延t，即可决定反射点的高度为
式中 c为真空中的光速。但实际上电离层介质中电波的群速度小于光速c。因此，由上式算出的 h′不是反射点的真正高度 h，它可能比h高得多。通常称h′为等效高度或虚高。
- 公司名称
上海埃飞电子科技有限公司
- 品牌
- 型号
AI-1 - 产地
意大利 - 厂商性质
代理商 - 更新时间
2021/2/9 11:00:37 - 访问次数
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